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검사장비

하이셈은 Memory Test의 전기적 특성 검사를 지원하기 위한
대표적인 장비들을 보유하고 있으며,
Laser Marking, Visual Inspection, Bake, Tape & Reel등의
장비를 보유하여 Backend 서비스까지 완벽하게 제공합니다.

Final Test

다양한 Package의 정확한 전기적 특성 검사를 진행하기 위한 Tester, Handler 장비들을 보유하고 있으며,
Test 진행에 필요한 Accessory (DSA Board, HIFIX Board, COK)의 신속하고 저렴한 공급을 지원하고 있습니다.

TESTER

TESTER
TEST PROCESS MAKER MODEL SPEED DUTS(MAX) TARGET DEVICE
Memory TEST ADVANTEST T5503HS 4.511Gbps 512 DDR4 / LPDDR4
T5503 2.286Gbps DDR3,4 / LPDDR3 / EMCP
T5833 2.4Gbps 512 LPDDR4
T5588 / T5588S 800Mbps 1024 / 512 DDR3,4 / LPDDR2,3,4
T5593 1.066Gbps 128 DDR3 / GDDR3
T5377 / 77S 286Mbps 256 NAND FLASH
NEXTEST MAGNUM Ⅰ SSV 100Mbps 320 NAND FLASH
MAGNUM 5X 1.6Gbps 640 EMCP
UNITEST SHM-9G 4.5Gbps 512 DDR4 / LPDDR4 / GDDR4,5

HANDLER

HANDLER
MAKER MODEL MAX PARA TEMPERATURE
MIRAE M500HT 512 -40℃~125℃
M500H 512 -40℃~125℃
M500 512 -40℃~125℃
M510 512 -40℃~125℃
M330H 128 -40℃~125℃
ADVANTEST M6300 256 -40℃~125℃
M6243 512 -40℃~125℃
TECHWING TW350HT 512 -40℃~125℃
TW-S7 768 -40℃~125℃
TW312 320 -40℃~125℃

Burn In Test

Burn-In과 Function Test를 함께 할 수 있는 장비들을 보유하고 있으며,
Test 진행에 필요한 Accessory (BIB, COK)의 신속하고 저렴한 공급을 지원하고 있습니다.

Burn In Test
TEST PROCESS MAKER MODEL SPEED DUTS(MAX) TARGET DEVICE
Hybrid Burn-In UNITEST UNI940A 400Mbps 6144 DDR4
Sorter JT Corp JTS-30K-R2 - 24 BGA, TSOP

Back end

테스트 완료된 양품의 제품을 고객의 요구사항에 맞게
Laser Marking, Visaul Inspection, Bake, Packing 등의 서비스를 제공합니다.

Wafer Test
TEST PROCESS MAKER MODEL
Marking SAMIL SLM-27T
LIS ICOS CI-T120
INTEKPLUS IPIS-300
TAPE & REEL HI-Q HQ-8000
BAKE OVEN 1First TSO-250
DUOCOM HS-2954
LCS SAMIL SMC-2700
AUTO FILLING SAMIL FLM-28

SITEMAP

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